產品詳情
jFD-2000是一臺非接觸式膜厚檢測儀，采用光學干涉的原理檢測膜厚�？梢詼y量同時可測干膜和濕膜。檢測范圍為0.5微米-100微米。
一、儀器檢測原理外部光路結構：
光從光源發出，經過光纖導到反射探頭打出，聚焦在在樣品上。薄膜上下表面都會產生反射光，如下圖所示：
兩種反射光由反射探頭采集，并由另一根光纖導入到分光結構，進行光譜排列。測量出干涉條紋：測量譜圖：通過光譜軟件，將樣品放置于檢測位置，
可以得到反射率譜線，如下圖所示：
再經過軟件內部處理，得到干涉條紋的極大值和極小值。得到極值后再通過厚度公式，即可算出膜層厚度。
二、 儀器適用范圍
l 濕膜厚度檢測。
l 干膜、硬涂層厚度檢測。
l 玻璃、塑料、凝膠、光刻膠、電介質厚度檢測。
l 汽車工業中薄膜、光油、底漆厚度檢測。
l 醫療設備中藥囊、藥品覆膜、包裝薄膜厚度檢測。
l 光伏產業中透明導電氧化膜、減反射膜厚度檢測。
l 食品包裝中卷式薄膜、液體隔離膜厚度檢測。
三、 樣品要求
1、 薄膜在200-1100nm內的某一波段可部分透光。
2、 薄膜厚度范圍：0.5um-100um（不同厚度范圍采用不同配置）。
3、 基底表面和薄膜表面平整光潔。
四、產品配置
l 主控制箱內部包含光源、光譜儀、運動系統控制器。
2、通過USB線與電腦連接。
12V3A供電。
片狀支架通過光纖與控制箱連接。
五、 儀器主要參數
六、 重復性、重現性數據報告
重復性說明：
樣品不動，重復測量50次的厚度值。
重現性說明：
檢測樣品點不變，反復拿出樣品和放入樣品檢測50次的厚度值。
七、儀器操作
檢測操作，詳見操作說明書和軟件說明書。
